X射線衍射儀的原理是什么?X射線衍射儀的原理詳解
更新時間：2017-02-17 點擊量：9803
Aeris 臺式 X 射線粉末衍射儀(XRD)是的 X 射線分析儀器和軟件供應商荷蘭帕納科公司于2016 年 11 月 1 日宣布推出的新產品。這款新產品的主要優(yōu)點是易于使用并可為使用者帶來諸多好處，能夠快速、地提供被測材料的物相信息。 考慮到很多行業(yè)對材料分析都有一些特定需求：一方面， Aeris為滿足水泥、礦山和冶金行業(yè)的特定需求而量身定制了多個版本。這些版本都可提供快速、的結晶礦相信息，進而用于生產流程的控制和優(yōu)化。另一方面，Aeris科研版則是專為在各種實驗室中快速地進行XRD掃描而設計的一個版本，可供材料及其它科研工作者輕松無障礙地使用。
X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器，利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發(fā)光、照相機乳膠感光、氣體電離。X射線衍射儀的原理是什么用戶都了解嗎?下面小編就來具體介紹一下，希望可以幫助到大家。
X射線衍射儀的原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結構，還提出了作為晶體衍射基礎的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。
對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。常見具備x射線衍射儀檢測能力的機構有：西南科技大學、中國石油大學(北京)、四川大學、西南交通大學、西南石油大學、天津商業(yè)大學、中藍晨光化工研究院、華通特種工程塑料研究中心、南京大學等。
